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產(chǎn)品名稱:
OTSUKA大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀
產(chǎn)品型號:
FE-300
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大塚電子
折扣價格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):49
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
安徽代理OTSUKA大塚厚量測儀
OTSUKA大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀 AT-1500
OTSUKA大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀
的詳細(xì)介紹
蘇州代理OTSUKA大塚厚量測儀
RETS-100采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
測量項(xiàng)目
封入cell gap
twist角
rubbing角
pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
空cell gap
相位差(復(fù)折射相位差)的波長分散
光學(xué)軸
橢圓率/方位角
三次元折射率/Rth/β
分光光譜/色度
測量對象
液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強(qiáng)感應(yīng)電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
光學(xué)材料
- 其他(相位差、橢圓?偏光膜、液晶材料)